表面粗糙度測(cè)量功能

1. 高分辨力型Z1軸檢出器作為標(biāo)準(zhǔn)件提 供。Z1軸的高顯示分辨力為0.0001μm (測(cè)量范圍為8μm時(shí))。 2.X軸內(nèi)置高精度玻璃光柵尺，直接讀取X 軸移動(dòng)距離，在高精度精準(zhǔn)定位下，完 成間距參數(shù)的評(píng)價(jià)。

3.檢出器測(cè)力有4mN和0.75mN可選。

輪廓測(cè)量功能

•Z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和 新型測(cè)臂。高精度弧形光柵尺能直接讀 取測(cè)針的弧形軌跡，以實(shí)現(xiàn)高精度和高 分辨力。與傳統(tǒng)型號(hào)相比，新測(cè)臂使Z1 軸測(cè)量范圍增大了10mm 同時(shí)減少了工 件的干擾。測(cè)臂安裝部采用了磁性鏈接 件，單此接觸就能完成測(cè)臂的裝卸，提高了易用性。

輪廓度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品特性:

• 專為SV-C-4500系列增加了以下兩大特性 作為輪廓測(cè)量系統(tǒng)的功能。

1.裝配雙錐面測(cè)針，實(shí)現(xiàn)垂直方向(上/下 )連續(xù)測(cè)量，所獲取的數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單分 析以往難以測(cè)量的內(nèi)螺紋有效直徑。

2.測(cè)力可在FORMTRACEPAK軟件中設(shè) 置。無需調(diào)整配重。

• 的表面粗糙度/輪廓FORMTRACEPAK 分析程序，通過簡(jiǎn)單的操作就能進(jìn)行高 級(jí)分析并即刻輸出結(jié)果。

• 表面粗糙度測(cè)試儀和輪廓測(cè)量?jī)x結(jié)合在 一起，節(jié)省安裝空間。